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半導體硅片電制冷系統,摒棄液氮制冷自動濾光片選擇多種準直器自動自由切換三重安全保護模式相互獨立的基體效應校正模型多變量非線性回歸程序樣品腔自動開關軟件定位樣品平臺,較小位移 0.01 mm自動切換準直器和濾光片,分別針對不同樣品特別開發測量軟件,操作界面十分友好內置高清晰攝像頭,方便用戶隨時檢測樣品高貴時尚的外型,帶給您全新的視覺沖擊精準的自動移動平臺,較精確方便地調節樣品位置采用天瑞儀器**產品
產品說明、技術參數及配置CEMS-X100是天瑞儀器20多年X射線熒光(XRF)研發制造經驗的結晶。儀器結合煙氣顆粒物稀釋采樣技術和等速采樣技術,將煙氣中水分和溫度降至一定溫度后,顆粒物自動富集在卷狀濾膜上,采用高度集成**探測器和X射線熒光數字多道分析技術檢測重金屬顆粒物在X射線激發下產生的X熒光強度,通過信號強度和體積換算精確計算煙氣顆粒物中重金屬的濃度。實現煙氣中鉛、汞、鎘、鉻、砷等幾十種重
磁感應測量原理采用磁感應原理時,利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀,原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性,則要求與基材的導磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時,儀器自動輸出測
涂鍍層測厚儀是無損檢測技術是一門理論上綜合性較強,又非常重視實踐環節的很有發展前途的學科。它涉及到材料的物理性質、產品設計、制造工藝、斷裂力學以及有限元計算等諸多方面。涂鍍層測厚儀在化工、電子、電力、金屬等行業中,為了實現對各類材料的保護或裝飾作用,通常要采用噴涂、有色金屬覆蓋以及磷化、陽極氧化處理等方法,這樣,便出現了涂層、鍍層、敷層、貼層或化學生成膜等概念,我們稱之為“覆層”。覆層的厚度測量已
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
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