什么是IEC 60086-4標(biāo)準(zhǔn)

時(shí)間：2023-06-24作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：167

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 釘是釘，鉚是鉚，符合AMS2750標(biāo)準(zhǔn)的試驗(yàn)箱

  AMS2750標(biāo)準(zhǔn)是美國(guó)宇航局現(xiàn)行使用的關(guān)于宇航材料高溫測(cè)量法的規(guī)定，新版的AMS2750F在E版本上進(jìn)行了經(jīng)驗(yàn)和技術(shù)要求上的革新，涉及的板塊有：溫度傳感器、儀表、熱處理工藝設(shè)備、系統(tǒng)精度校驗(yàn)、爐溫均勻性測(cè)量、試驗(yàn)爐、記錄等方面，對(duì)校驗(yàn)的方法和頻次也有了明確的規(guī)定，宏展科技是在AMS 2750F版基礎(chǔ)上進(jìn)行了經(jīng)驗(yàn)匯集和技術(shù)革新，獨(dú)立研發(fā)具有優(yōu)良性能的試驗(yàn)箱，以適應(yīng)不斷變化的市場(chǎng)變化，在激烈的競(jìng)爭(zhēng)中

• 氙燈老化試驗(yàn)箱與紫外線老化試驗(yàn)箱的區(qū)別

  一、原理： 氙燈老化試驗(yàn)機(jī)與紫外老化試驗(yàn)箱 是應(yīng)用比較廣泛的加速老化jiance設(shè)備，這兩種jiance設(shè)備的測(cè)試原理完全不同。氙燈老化試驗(yàn)機(jī)模擬太陽(yáng)光的所有光譜，包括紫外線(UV)、可見(jiàn)光和紅外線(IR)，氙燈光譜在295nm到800nm范圍內(nèi)基本上與太陽(yáng)光的光譜相吻合。因此就是說(shuō)氙燈老化試驗(yàn)箱被用來(lái)測(cè)試許多產(chǎn)品，這些產(chǎn)品對(duì)紫外線的長(zhǎng)波段、可見(jiàn)光及紅外線較敏感。而紫外老化試驗(yàn)箱則利用熒光紫外光燈

• 高低溫沖擊試驗(yàn)箱碰到少水狀況要如何處理

  當(dāng)高低溫沖擊試驗(yàn)箱長(zhǎng)時(shí)間性應(yīng)用時(shí)。設(shè)備有少水警報(bào)、過(guò)壓警報(bào)和負(fù)載警報(bào)。這種難題并不是由機(jī)器設(shè)備常見(jiàn)故障造成的。能夠根據(jù)校準(zhǔn)等有關(guān)手動(dòng)式實(shí)際操作來(lái)處理,因而,客戶無(wú)須擔(dān)憂過(guò)多。這類方式簡(jiǎn)易*,它是不容易危害試驗(yàn)的,殊不知,在應(yīng)用設(shè)備時(shí),個(gè)人工作室的右上方也會(huì)出現(xiàn)水珠,這個(gè)問(wèn)題對(duì)檢測(cè)有非常大的危害,因此客戶應(yīng)當(dāng)需注意防范措施,那我們要如何處理呢? 高低溫沖擊試驗(yàn)箱碰到少水狀況要如何處理1、開(kāi)啟右上方

• 芯片需要提前進(jìn)行烘烤處理嗎?

  在芯片生產(chǎn)過(guò)程中，可以通過(guò)合理的烘烤去除芯片表面的水分和其他物質(zhì)，通過(guò)烘烤，為**后面的焊接等重要工序，確保質(zhì)量，提高可靠性，并保護(hù)芯片的完整性，所以芯片的烘烤預(yù)處理是一個(gè)非常重要的環(huán)節(jié)。一、去除水分和其他有害物質(zhì)????在芯片制造過(guò)程中，芯片可能會(huì)暴露在潮濕的環(huán)境中，吸收大量水分。水分的存在會(huì)對(duì)焊接過(guò)程產(chǎn)生不利影響，例如會(huì)導(dǎo)致焊接接頭氣泡、焊接不牢固等問(wèn)題