光學鍍膜料的成分|光學干涉濾光片鍍膜

時間：2017-08-02

作者：深圳市思貝達科技有限公司

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詞條說明
透紅外線紅色亞克力(PMMA,PC)思貝達專業生產廠家
產品特點：隨著紅色光LED燈,紅光激光半導體產品的應用領域的滲透,紅色PMMA,PC材質的濾板越來越不局限于過去采用紅色粉進行染色(著色),或采用工業紅色板材來裝配儀器和設備視窗.我司推出的透紅外線紅色亞克力(PMMA,PC) ,過濾雜散光較好,紅外線透穿較高,不會感覺還有420nm的紫光和580nm的黃光干擾. 光學指標： 400-580nm T 中心波長：600nm 650-2500nm
思貝達濾光片光學鍍膜濾光片檢測
鍍膜的環境試驗一般情況下，薄膜制備工藝決定了薄膜都具有柱狀的微結構，該結構使薄膜內部存在一定空隙，并造成薄膜器件光學特性和機械特性的不穩定，因此對某些在特殊環境下使用的薄膜必須進行各種環境試驗。 1.恒溫恒濕試驗。它是較常規的環境試驗。一般在相對濕度95%，溫度為55度的環境下存放6-24小時；或在40度以下存放10天；或在室溫至80度的環境下做多次循環試驗，然后檢測薄膜樣品在試驗前后的膜層的
激光測距儀濾光片|柱面透鏡|透鏡
半導體激光器( laser diode， LD) 以其體積小效率高易于集成可高速直接調制等優點，被廣泛用于激光雷達激光測量激光照明激光制導激光打印以及高密度信息記錄與讀取等領域。但是半導體激光器**的激光光束具有在垂直和平行于結平面兩個方向發散角不同光斑形狀不規則( 如一般是橢圓型或長條型) 存在固有像散等缺點，這使得半導體激光3 維掃描成像雷達的測程測距精度大大受影響，
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關于光學表面光法度劃痕、麻點的解析： 1. 劃痕 1.1 依據美**MIL-0-13830將劃痕單位定為：1/1000mm,如：40#劃痕寬度為 40*（1/1000mm）=0.04mm。 1.2 當元件上的劃痕級數**過表面質量要求的劃痕線偏振鏡和圓偏振鏡的區別：偏振鏡有兩種。一種是線偏振鏡，又稱普通偏振鏡，英文標志為PL；另一種是圓偏振鏡，英文標志為CPL。 CPL的外觀呈灰色，是由一片